測試與服務(wù)
場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描顯微鏡
發(fā)布時(shí)間:2020-01-08
一、設備信息:
l 型號:Quanta FEG 450
l 生產(chǎn)廠(chǎng)家:美國FEI公司
二、工作原理:
由電子槍發(fā)射電子束,經(jīng)過(guò)一組磁透鏡聚焦,聚焦后,用遮蔽孔徑的方式選擇電子束的尺寸后,通過(guò)一組控制電子束的掃描線(xiàn)圈,再透過(guò)物鏡聚焦,打在樣品上,由訊號接收器擇取二次電子或背散射電子成像。
三、主要技術(shù)指標:
1. 分辨率
高真空模式:≤1.0nm@30kv(SE)、≤2.5nm@30kv(BSE)、≤3nm@1kv(SE);
低真空模式:≤1.4nm@30kv(SE)、≤2.5nm@30kv(BSE)、≤3nm@3kv(SE);
環(huán)境真空模式:≤1.4nm@30kv(SE)
2. 放大倍率/最大像數:10~10萬(wàn)/6144×4096
3. 電子槍?zhuān)?span lang="EN-US">Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍
4. 樣品室真空度:
高真空:優(yōu)于6×10-4Pa、
低真空:優(yōu)于10~130Pa、
環(huán)境真空:優(yōu)于10~4000Pa
四、主要功能:
1. 觀(guān)測樣品的微區形貌和結構;
2. 利用能譜儀可分析樣品的微區成分,對其表面物質(zhì)進(jìn)行定性和定量分析。
五、應用領(lǐng)域:
可廣泛應用于水泥基材料、陶瓷材料、玻璃材料、復合材料、薄膜材料、金屬材料、生物材料等表面微觀(guān)形貌觀(guān)察及成分分析。
六、先進(jìn)性:
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