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高溫原位XRD衍射儀

發(fā)布時(shí)間:2018-03-22

一、設備信息

l  型號:Bruker D8 Discover

l  生產(chǎn)廠(chǎng)家:德國Bruker公司

二、工作原理

晶體衍射基礎方程:布拉格方程, nλ=2dsinθ。X射線(xiàn)儀的基本原理即根據晶體對X射線(xiàn)的衍射特征-衍射線(xiàn)的位置、強度及數量來(lái)鑒定物相、并進(jìn)行定性及定量分析的方法。

三、主要技術(shù)指標

1.  樣品形狀:塊體、粉末、薄膜、液體

2.  可變溫范圍:室溫-2000 °C (空氣,N2/Ar 惰性氣氛,N2/H2還原性氣氛),升溫速率:0.1-60 °C

3.  2θ范圍:-10 – 90 °

4.  掃描精度:0.001°

 

四、案例



XRK-900型高溫樣品臺


X射線(xiàn)衍射表征玻璃中析出的納米晶



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